溫度傳感器測試及半導體致冷控溫實驗儀     型號；XRS-FD-TM

對溫度傳感器性能的了解及測試是大學物理實驗的一項bibei內容，但大多數(shù)實驗儀器只具備做環(huán)境溫度以上的實驗， HAD-FD-TM溫度傳感器測試及半導體致冷控溫實驗儀具備了半導體致冷功能，使之能做環(huán)境溫度以下的實驗。本儀器主要測試溫度傳感器AD590的性能(可根據(jù)要求增加多種溫度傳感器的測試)及了解半導體致冷堆的性能。

　　儀器主要由以下部分組成：

　　1．TCF708控溫儀

　　2．四位半數(shù)字電壓表（0-2V）

　　3．加熱井和致冷井裝置

　　4．AD590實驗系統(tǒng)

　　應用該儀器可以完成以下實驗：

　　1．學習半導體制冷的原理。

　　2．測量電流型溫度傳感器AD590的特性。

　　3．學習智能溫度調節(jié)儀控溫的原理及調節(jié)方法。

　　儀器主要技術參數(shù)：

　　1．加熱范圍 環(huán)境溫度－120℃

　　2．致冷范圍 環(huán)境溫度－低于環(huán)境溫度30℃

　　3．控溫精度 0.1℃

　　4．測溫精度 ±3%